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半導體檢測用顯微鏡單元

帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。

?  帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。

?  多種顯微鏡鏡體通常用作適用于專業(yè)器械 的 OEM ( 原廠委制 ) 產(chǎn) 品, 如那些利用YAG ( 近紅外、可見、近紫外或紫外 ) 激光 對半導體晶片進行檢測和修補的設備。

?  應用:切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 /  薄膜 ( 絕緣膜 ) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復 ( 校正錯誤 ) 。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

?  可用于紅外光學系統(tǒng)  。

應用 :晶體硅的內(nèi)部觀察 ;紅外光譜特征分析。

?  支持 BF  ( 亮視場 ) 、 DF  ( 暗視場 ) 、偏振光及微分干涉對比 ( DIC ) 的型號 ( 產(chǎn)品 ) 可用。

?  帶有孔徑光闌的柯勒照明是表面照明光學系統(tǒng)上的標準配件。

?  內(nèi)傾轉塔和超長工作距離的物鏡確保了顯微鏡下的高可操作性。


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